傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試

　　射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試所研究的騷擾源通常是指來自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場。 該電磁場可能作用于連接安裝設(shè)備的整個電纜上。雖然被騷擾設(shè)備的尺寸比騷擾頻率的波長小，但I(xiàn)/O線，例如電源線、通信線、接口電纜等，由于其長度可能是幾個波長、則可能成為無源的接收天線網(wǎng)絡(luò)。

　　假定連接設(shè)備的電纜網(wǎng)絡(luò)是處于諧振的方式(入/4和入/2開路或折合偶極子，電纜系統(tǒng)間的敏感設(shè)備易受到流經(jīng)設(shè)備的騷擾電流的影響，并由相對于參考接地平面(板)具有 150Ω共模阻抗的耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)代表這種電纜系統(tǒng)。

　　測量方法是使受試設(shè)備在騷擾源作用下形成的電場和磁場來模擬來自實(shí)際發(fā)射機(jī)的電場和磁場。這些騷擾場是由試驗(yàn)配置所產(chǎn)生的電壓或電流所形成的近區(qū)電場和磁場來近似表示 的。用耦合和去耦裝置提供騷擾信號給某一電纜，同時保持其他電纜不受影響，只近似于騷擾源以不同的幅度和相位范圍同時作用于全部電纜的實(shí)際情況。

　　1. 射頻輻射抗擾度測試試驗(yàn)等級

　　試驗(yàn)等級定義的頻率范圍為150kHz-8MHz。9-150Khz頻率范圍內(nèi)，對來自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場所引起的感應(yīng)騷擾不要求測量。試驗(yàn)等級如表1所示。

　                                            表1，試驗(yàn)等級

　　試驗(yàn)等級選擇主要依據(jù)設(shè)備和電纜實(shí)際安裝時所接觸的電磁環(huán)境。表6-16中的等級劃 分依據(jù)如下。

　　b. 2類：中等電磁輻射環(huán)境。用在設(shè)備飭低功率便攜式發(fā)射機(jī)(典型額定值小于1W)。典型的商業(yè)環(huán)境。

　　c. 3類：嚴(yán)酷電磁輻射環(huán)境。用于相對靠近設(shè)備，但距離不小于1m的手提式發(fā)射接收機(jī)(≥2W),用在靠近備的高功率廣播緒機(jī)和可能靠近工科醫(yī)設(shè)備。典型的工業(yè)環(huán)境。

　　d. X類：特定產(chǎn)品通過協(xié)商或由產(chǎn)品規(guī)范和產(chǎn)品的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的開放等級。 選擇適用等級時，還要考慮到受試設(shè)備產(chǎn)生故障的后果，當(dāng)產(chǎn)生的后果嚴(yán)重時可以考慮 采用更嚴(yán)格的試驗(yàn)等級。

　　2. 射頻輻射抗擾度測試試驗(yàn)設(shè)備

　　(1) 試驗(yàn)信號發(fā)生器

　　試驗(yàn)信號發(fā)生器包括在所要求點(diǎn)上以規(guī)定的信號電平將騷擾信號施加給每個耦合裝置輸 人端口的全部設(shè)備和部件。試驗(yàn)信號發(fā)生器的部件包括：射頻信號發(fā)生器G1，衰減器T1 (典型0?40dB、射頻開關(guān)S1、寬帶功率放大器PA、低通濾波器(LPF)和/或高通濾波器(HPF)、衰減器T2。具體的組合如圖1所示。
                                                           圖1，試驗(yàn)信號發(fā)生器的配置


                                                  表2試驗(yàn)信號發(fā)生器的特性

　　(2) 耦合和去耦裝置

　　為使騷擾信號合適地耦合到連接受試設(shè)備的各種電纜上，應(yīng)用耦合和去耦裝置。耦合和 去耦裝置可組合成一個盒子，或由幾部分組成。耦合和去耦裝置的主要參數(shù)共模阻抗，在受試設(shè)備端口看進(jìn)去應(yīng)符合表6-1&所示。

                                                  表3，耦合和去耦裝置的主要參數(shù)

　　(3) 耦合和去耦裝置的受試設(shè)備端口上共模阻抗的校驗(yàn)

　　耦合和去耦裝置是由受試設(shè)備端口上看進(jìn)去的共模阻抗∣Zce∣來表征的，其值的正確性保證了測量結(jié)果的重現(xiàn)性。

　　耦合和去耦合裝置與阻抗參考平面應(yīng)放在參考接地平面上，參考接地平面的尺寸應(yīng)超過設(shè)備所有邊的幾何投影尺寸至少0.2m。使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀或阻抗儀應(yīng)有50Ω的參考阻抗，應(yīng)在阻抗參考平面上校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀。在阻抗參考鏈接點(diǎn)和受試連接點(diǎn)和受試設(shè)備端口之間必須用短線連接線(≤30mm)的幾何尺寸驗(yàn)證∣Zce∣。

　　(4) 試驗(yàn)配制

　　受試設(shè)備應(yīng)放在參考接地平面上面0.1m高的絕緣支架上,將合適的耦合和去親裝置提 供給全部有關(guān)電纜。裝置與參考接地平面上受試設(shè)備的幾何投影在0.1-0.3m范圍內(nèi)。對屏蔽電纜是將騷擾信號電流注人到電纜的屏蔽層，對非屏蔽電纜是將騷擾信號通過耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)(CDN)注入各條饋線上。射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)配置如圖2所示。

　　                                                圖2，射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)配置圖

　　3. 射頻輻射抗擾度測試步驟

　　注入電流試驗(yàn)中，注入方法的選擇是進(jìn)行試驗(yàn)的第一步，根據(jù)設(shè)備的性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)可 選擇以下注入方式。

　　(1) 直接注入

　　來自信號發(fā)生器的騷擾信號通過100Ω的電阻被注人到同軸電纜的屏蔽層上，在輔助設(shè)備和注人點(diǎn)之間盡可能靠近注入點(diǎn)處插人一個去耦網(wǎng)絡(luò)。此去耦網(wǎng)絡(luò)通常由各種電感組成，以便在整個頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生高阻抗，一般要求在150kHz的頻率上至少是280µ的電感量。同時要求電抗足夠高，在26MHz以下頻率電抗應(yīng)≥260Ω，在26MHz以上頻率電抗應(yīng)≥150Ω。

　　另外，去耦網(wǎng)絡(luò)還應(yīng)用于不被測量但連接到受試設(shè)備或輔助設(shè)備的全部電纜上。

　　(2) 鉗注入法

　　鉗注入法是指采用電流鉗或電磁鉗實(shí)現(xiàn)#號發(fā)生器和受試設(shè)備連接的方法。電流鉗的作 用是對連接到設(shè)備的電纜建立感性耦合，電磁鉗的作用是對連接受試設(shè)備的電纜建立感性和 容性耦合。這兩種鉗注入裝置耦合和去耦部分都是分開的，由鉗式裝置提供耦合，而共模阻 抗和去耦功能是建立在輔助設(shè)備上的。

　　注人法的具體程序由圖3給出
                                                              　圖3，注入法選擇程序

　　對于來自試驗(yàn)配置的輻射應(yīng)遵守有關(guān)干擾法則，當(dāng)輻射的能量超過允許的電平時，應(yīng)在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)。依次將試驗(yàn)信號發(fā)生器連到每個耦合和去耦裝置上，而其他不被激勵的 耦合裝置的射頻輸入端口應(yīng)端接50Ω電阻負(fù)載。為了防止諧波干擾受試設(shè)備，應(yīng)使用濾波器。試驗(yàn)信號在每一頻率上的駐留時間不應(yīng)少于受試設(shè)備所需的運(yùn)行和響應(yīng)時間。試驗(yàn)期間應(yīng)設(shè)法充分操作受試設(shè)備，并充分審查抗擾度試驗(yàn)所選擇的全部操作方式，推薦使用專門的操作程序。

　　無論是直接注人還是鉗注入，均應(yīng)對騷擾源的電平進(jìn)行調(diào)整，按所需的試驗(yàn)電平進(jìn)行試 驗(yàn)。具體方法是用手動或自動方法在150kHz-80MHz (或230MHz)頻率范圍進(jìn)行掃描，按試驗(yàn)判據(jù)檢查受試設(shè)備的功能和性能是否正常。掃描速率不能超過1，5×10-3十倍頻程/S。當(dāng)掃描速率曾加時，步進(jìn)大小不應(yīng)超過起始頻率的1%，此后步進(jìn)的大小不應(yīng)超過前一頻率值的1%，在每一頻率上的駐留時間不應(yīng)小于受試設(shè)備—的運(yùn)行和響應(yīng)時間。

　　以上為共模注入騷擾信號的方法，共模注入點(diǎn)是指受試設(shè)備注入騷猶信號的點(diǎn)，對連接電纜而言是電纜的屏蔽層，對非屏蔽饋線(如電源線)是指注入網(wǎng)絡(luò)中RC線路與每根線相交的點(diǎn)。

　　在未調(diào)制時，試驗(yàn)信號發(fā)生器的特性由表2給出。
       
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